AFM - FLEXAFM ACCharakterystyka AFM

AFM,  czyli mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope), jest urządzeniem pozwalającym na ocenę właściwości powierzchni oraz jej obrazowanie z rozdzielczością rzędu nanometrów. Odkształcenie dźwigni, dostarczające informacje o próbce, wykrywane jest za pomocą pomiaru prądu tunelowego, zmiany położenia wiązki lasera za pomocą fotodetektorów, pomiary interferencji fal oraz wykorzystując efekt pizoelektryczny. Pomiary dokonywane są w trzech trybach pracy mikroskopu: statycznym, dynamicznym lub przerywanym. Informacje o powierzchni badanego preparatu powstają na skutek ugięcia ostrza pomiarowego. Na jego podstawie określane są siły oddziaływania między atomami ostrza, a atomami znajdującymi się na powierzchni preparatu. Atomy znajdujące się w odległości mniejszej niż 0,1 nm są przyciągane, w większej są odpychane na skutek odziaływań van der Waalsa lub sił Columbowskich.

Budowa mikroskopu AFM

Sercem mikroskopu jest sonda. Istotne jest aby dobrana była do rodzaju badanego materiału, typu badanej próbki oraz trybu pomiaru. Przed pomiarem próbka umieszczana jest w układzie pozycjonującym (tzw. piezotuba). Piezoskaner, który sterowany jest przez mikrokontroler, pozwala na ustawienie ostrza w odpowiedniej odległości od powierzchni próbki. Ostrze, które może być w kształcie graniastosłupa lub ska umieszczone jest na mikrodźwigni, która zmienia swoje położenie w trakcie skanowania próbki. Mikrodźwignia wykonana może być ze złotej folii z diamentową sondą, krzemu lub azotu krzemu. Sygnał zmiany położenia mikrodźwigni dostarcza informacji o sile odziaływania ostrza z próbką a co za tym idzie o powierzchni badanej próbki.

Zalety AFM

AFM - LensAFMZaletami mikroskopu AFM jest możliwość uzyskania obrazów wysokiej rozdzielczości. Metoda ta jest bardzo czuła. Pozwala na badanie preparatów niezależnie od ich właściwości izolacyjnych. Dodatkowym atutem jest niska inwazyjność metody dzięki czemu próbka nie ulega zniszczeniu, co pozwala na badanie próbek biologicznych in vivo. Bardzo dużą zaletą jest nieskomplikowana preparatyka próbek. Jedynym ograniczeniem dotyczącym preparatów jest ich wielkość, która ograniczona jest wielkością stolika mikroskopu. Pomiary mogą być dokonywane w różnych środowiskach pracy mikroskopu, zarówno w gazowym, w płynie lub próżni. Ważną zaletą jest możliwość przeprowadzenia pomiarów w trakcie trwania reakcji chemicznych.

Zastosowanie AFM

Mikroskop AFM może dostarczyć wielu informacji o właściwościach powierzchni próbki jak chropowatość powierzchni, siłach tarcia, elastyczności, siłach adhezji, lepkości, twardości, właściwościach elektrycznych oraz magnetycznych. Mikroskop ze skanującą sondą pozwala na charakterystykę materiałów biologicznych, metali oraz materiałów krzemowych czy ceramicznych. Analizy wykorzystywane są w takich dziedzinach nauki jak fizyka, biologia, medycyna, chemia i technika.

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00