Charakterystyka DualBeam

mikroskop 3d

Technologia DualBeam (podwójnej wiązki) jest połączeniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) i skaningowej mikroskopii jonowej (FIB). Podczas analizy próbki wykorzystywana jest zarówno wiązka elektronów jak i wiązka jonów gazu szlachetnego. Odsłanianie kolejnych warstw próbki odbywa się poprzez wycinanie zogniskowaną wiązką jonową. Jony galu emitowane są z katody
i przyśpieszane. Uderzając w próbkę z ustaloną energią powodują rozpylenie materiału. Średnica i energia wiązki dobierana jest odpowiednio w zależności od rodzaju badanego materiału. Regulacja wiązki pozwala na wycinanie z powierzchni próbki obszarów o różnych kształtach. Kolejno odsłaniane warstwy próbki są skanowane przez wiązkę elektronów. Obraz powstaje poprzez analizę sygnałów emitowanych przez elektrony wtórne SE (ang. secondary electrons), odbite BSE (ang. backscattered electrons) oraz absorbowane AE (ang. absorbed electrons). Otrzymane dwuwymiarowe obrazy kolejnych warstw w późniejszym etapie mogą zostać wykorzystane do cyfrowej rekonstrukcji trójwymiarowej struktury obiektu.

Preparaty DualBeam

Preparaty uzyskiwane są zarówno z materii nieożywionej jak i ożywionej. Próbki przed analizą powinny być wstępnie zeszlifowane. Umieszczane są następnie na siatce miedzianej i montowane w uchwycie mikroskopu.

Używając mikroskopu DualBeam możemy przygotować preparaty do transmisyjnej mikroskopii elektronowej. Cienkie folie uzyskiwane są za pomocą ścieniania jonowego. Skanowanie wiązką elektronów pozwala na monitorowanie etapów przygotowania próbki oraz kontrolę trwałości warstwy ochronnej próbki. Przygotowanie preparatów oraz ich analiza odbywa się w jednym urządzeniu,
w związku z czym nie ma konieczności zaburzania warunków próżniowych, w których zachodzi proces.

Niekwestionowaną zaletą tej technologii jest oszczędność czasu i redukcja kosztów.

 

Zastosowanie DualBeam

Mikroskopy DualBeam wykorzystywane są do tworzenia trójwymiarowej rekonstrukcji materiałów. Takie odwzorowanie dostarcza zdecydowanie więcej informacji niż standardowa analiza dwuwymiarowa. Oprócz tego urządzenia tego typu oferują możliwości badań jakościowych i ilościowych, uzyskiwania informacji o morfologii, budowie chemicznej, kształcie mikrostruktur czy lokalizacji defektów powierzchniowych. Mikroskopy DualBeam znajdują szerokie zastosowanie w biologii, medycynie oraz inżynierii materiałowej.

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00