Charakterystyka DualBeam

mikroskop 3dTechnologia DualBeam jest połączeniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) i skaningowej mikroskopii jonowej (FIB). W analizie próbki wykorzystywana jest zarówno wiązka elektronów jak i wiązka jonów gazu szlachetnego. Odsłanianie kolejnych warstw próbki odbywa się poprzez cięcie zogniskowaną wiązką. Jony galu emitowane są z katody i przyśpieszane. Uderzając w próbkę z ustaloną energią powodują rozpylanie materiału. Grubość i energia wiązki dobierana jest w zależności od obserwowanego obiektu. Regulacja wiązki pozwala na wycinanie z powierzchni próbki obszarów o różnych kształtach. Kolejno odsłaniane warstwy próbki są skanowane przez wiązkę elektronów. Obraz powstaje poprzez analizę sygnałów emitowanych przez elektrony wtórne (SE), odbite (BSE), absorbowane (AE). Otrzymane dwuwymiarowe obrazy służą do rekonstrukcji trójwymiarowej struktury obiektu.

Obrazowanie 3D z Dual Beammikroskop 3d

Technika ta pozwala na uzyskanie serii obrazów 2D z kolejnych płaszczyzn obrazowania. Każda kolejna płaszczyzna analizowana jest za pomocą mikroskopu SEM. Seria obrazów 2D jest łączona w przestrzenny wzór obiektu i wizualizowana dzięki zastosowaniu algorytmów graficznych. Technika ta jest odpowiednia dla obserwowania obiektów o wielkości nawet 100 nm. Jej zaletą jest to że nie wymaga pochylania obserwowanej próbki wzdłuż wiązki elektronów.

Preparaty DualBeam

Preparaty uzyskiwane są zarówno z obiektów materii nieożywionej jak i ożywionej. Próbki przed analizą powinny być wstępnie zeszlifowane. Umieszczane są następnie na siatce miedzianej i montowane w uchwycie mikroskopu.

Używając DualBeam możemy przygotować preparaty do transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM). Cienkie folie uzyskiwane są za pomocą ścieniania jonowego. Skanowanie wiązką elektronów pozwala na monitorowanie etapów przygotowania próbki, jej twardości i kontrolowanie czy warstwa ochronna próbki pozostała nienaruszona. Otrzymanie próbki i ich analiza odbywa się w jednym urządzeniu, w związku z tym nie trzeba przerywać warunków wysokiej próżni w której znajduje się próbka. Zaletą stosowania tej technologii jest możliwość zaoszczędzenia czasu i redukcji kosztów.

Zastosowanie DualBeam

Technikę tę wykorzystuje się w celu uzyskania trójwymiarowego obrazu próbki. Taka analiza dostarcza większej ilości informacji niż standardowe, dwuwymiarowe techniki analizy. Pozwala na analizę jakościową oraz ilościową. Możliwe jest uzyskanie informacji o morfologii, budowie chemicznej, kształcie mikrostruktur, lokalizacja i analiza defektów powierzchniowych. Pozwala również na analizę ilościową składu pierwiastków chemicznych. Zastosowanie znajduje w biologii, medycynie czy inżynierii materiałowej.

 

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00