FIB (Focus Ion Beam) – Skaningowa mikroskopia jonowa

fib leicaMetodyka przygotowania cienkich folii

Cienkie folie z materiałów metalicznych przygotowywane są za pomocą polerki elektrolitycznej lub ścieniania jonowego. Jest to proces dość skomplikowany i wymagający dużej precyzji. Największa trudność polega na ograniczonych możliwościach kontroli miejsca, w którym utworzony zostanie ścieniony obszar. FIB daje możliwość przygotowania cienkich folii i ich wstępną obserwację. Przygotowane preparaty mogą być również analizowane z wykorzystaniem transmisyjnej
i skaningowej mikroskopii elektronowej.

Charakterystyka FIB

W skaningowym mikroskopie jonowym (FIB) cienkie folie uzyskiwane są za sprawą trawienia próbki wiązką jonów galu o kontrolowanej średnicy i energii. Bombardujące jony powodują wybicie i rozpylenie materiału z powierzchni. Ponieważ rozmiary próbki są skali nano/mikro, mikroskop wyposażony jest również w drugą kolumnę skaningową (SEM), która umożliwia obserwację i kontrolę procesu wycinania próbki in-situ. Pozwala to na trawienie powierzchni na wybranych obszarach o dowolnych kształtach. Obraz w FIB powstaje dzięki sygnałom emitowanym przez elektrony wtórne (SE), czyli te które zostały wybite z wnętrza próbki. Stosowanie wiązki jonów zmniejsza efekt falowy w porównaniu do mikroskopów wykorzystujących wiązkę elektronów.

Sposoby otrzymywania próbek w FIB

Leica FIB Vacuum coating system

Mikroskop z działem jonowym FIB można wykorzystać do przygotowania cienkich folii do późniejszych badań w mikroskopii TEM. Metoda polega na naniesieniu paska platyny na miejsce, z którego ma być pobrana cienka folia. Wybrany obszar „wycina się” przy użyciu wiązki jonów galu, a następnie przenosi na siateczkę TEM przy użyciu igły mikromanipulatora zaczepionej o naniesiony na samym początku pasek platyny.

 

Zastosowanie FIB

Mikroskop typu FIB wykorzystuje się jako narzędzie do przygotowywania cienkich folii z materiałów ceramicznych, w elektronice lub w przypadku pracy na bardzo małych obiektach. Stosowany jest w biologii, inżynierii materiałowej czy przemyśle półprzewodników. Proces ścieniania jest znacznie szybszy niż w przypadku wykorzystania wiązki jonów argonu w ścieniaczach jonowych.

Urządzenie do laserowej mikroobróbki microPrep™ PRO

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00