Charakterystyka Interferencji fal

Zjawisko nakładania się (superpozycji) fal ze sobą spójnych, czyli takich, których fazy są wzajemnie skorelowane, a częstotliwości równe sobie, prowadzące do ich stabilnego wzmocnienia lub osłabienia nazywamy interferencją. Fale mogą wzajemnie interferować jeśli ich drgania zachodzą wzdłuż tego samego kierunku lub pochodzą z tego samego źródła.

Metodami interferencyjnymi nazywamy jakościową trójwymiarową analizę powierzchni. Analiza polega na mierzeniu rozkładu fali świetlnej na powierzchni próbki. Wykorzystywane metody dzielimy na: jakościowe, statystyczno – plamkowe, interferometrię holograficzną oraz bezpośredniego podziału (monochromatyczną
i światła białego).

Zasada działania  interferometru optycznego

Zasada działania opiera się na nakładaniu na siebie dwóch fal spójnych (nie dotyczy interferometru jednowiązkowego), co prowadzi do powstania jaśniejszych
i ciemniejszych prążków interferencyjnych. Pomiar natężenia światła oraz jego przestrzennego rozkładu pozwala na bardzo dokładne pomiary odległości albo przestrzennych wymiarów badanego obiektu. Interferometry optyczne wykorzystują do badań fale świetlne, lecz niekiedy wykorzystuje się również mikrofale lub wiązkę elektronów, które w skali mikroświata mogą być traktowane jak fale materii. Wyróżnia się interferometry jednowiązkowe, dwuwiązkowe i wielowiązkowe.

Zastosowanie interferometru optycznego

Wykorzystywane są interferometry jednopromieniowe, dwupromieniowe lub wielopromieniowe. Interferometr wykorzystujący interferencję dwupromieniową zapewnia wyższą rozdzielczość pionową, natomiast wykorzystując interferencję wielopromieniową rozdzielczość poziomą. Stosując interferencję dwupromieniową trudniej określić jest odległość i stopień ich deformacji. Dzięki zastosowaniu interferencji wielopromieniowej uzyskujemy obrazy większej rozdzielczości. Używana jest głównie do pomiarów struktury posiadającej nierówności o powtarzalnym kształcie i położeniu czyli tzw. struktury zdeterminowanej.

Do analizy w interferometrze obiekty nie wymagają wcześniejszego przygotowania. Jednak próbki charakteryzujące się dobrymi właściwościami refleksyjnymi dają analizę lepszej jakości. Próbkę można więc pokryć cienką warstwą  materiału o dobrych właściwościach refleksyjnych.

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00