Charakterystyka Interferencji fal

Zjawisko nakładania się fal spójnych prowadzące do ich stabilnego wzmocnienia lub osłabienia nazywamy interferencją fal. Fale mogą wzajemnie interferować jeśli ich drgania zachodzą wzdłuż tego samego kierunku lub pochodzą z tego samego źródła.

Metodami interferyncyjnymi nazywamy jakościową trójwymiarową analizę powierzchni. Analiza polega na mierzeniu rozkładu fali świetlnej na powierzchni próbki. Wykorzystywane metody dzielimy na: jakościowe, statystyczne-plamkowe, interferometrię holograficzną oraz bezpośredniego podziału (monochromatyczną i światła białego).

Zasada działania  interferometru optycznego

Interferometry optyczne wykorzystują interferencję światła odbitego od badanej powierzchni w porównaniu do powierzchni odniesienia. Powierzchnia odniesienia powinna być gładka i płaska.

Wiązka promieniowania emitowana jest ze źródła. Następnie rozdzielana jest na dwie wiązki przebiegające wzdłuż różnych dróg optycznych i ponownie nakładana na siebie. Jedna wiązka padając na powierzchnię odniesienia porusza się po drodze o znanej długości, a druga po drodze mierzonej, różnica w długości przebiegu promieni pokazuje różnicę dróg optycznych. Po odbiciu się od powierzchni łączą się ponownie i trafiają do detektora. Kiedy dwie spójne fale nakładają się na siebie powstają prążki interferencyjne o różnym stopniu intensywności. Pomiar intensywności wybarwienia tych prążków pozwala na dokonanie pomiaru.

Zastosowanie interferometru optycznego

Wykorzystywane są interferometry jednopromieniowe, dwupromieniowe lub wielopromieniowe. Interferometr wykorzystujący interferencję dwupromieniową zapewnia wyższą rozdzielczość pionową, natomiast wykorzystując interferencję wielopromieniową rozdzielczość poziomą. Stosując interferencję dwupromieniową trudniej określić jest odległość i stopień ich deformacji. Dzięki zastosowaniu interferencji wielopromieniowej uzyskujemy obrazy większej rozdzielczości. Używana jest głównie do pomiarów struktury posiadającej nierówności o powtarzalnym kształcie i położeniu czyli tzw. struktury zdeterminowanej.

Do analizy w interferometrze obiekty nie wymagają wcześniejszego przygotowania. Jednak próbki charakteryzujące się dobrymi właściwościami refleksyjnymi dają analizę lepszej jakości. Próbkę można więc pokryć cienką warstwą  materiału o dobrych właściwościach refleksyjnych.

 

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00