Mikroskop 3D – zasada działania

Mikroskop sił atomowych 3D

Obserwowanie obiektów przy dużym powiększeniu dostarcza wielu informacji o jej budowie oraz  właściwościach. Często powstające obrazy mają dwa wymiary, gdyż oś Z nie jest odwzorowywana. Takie obrazowanie nie pozwala na pełną analizę próbki, dlatego nowoczesne metody takie jak mikroskopia sił atomowych pozwalają na trójwymiarowe odwzorowanie obiektów. Możliwe jest np.: odwzorowanie rozkładu domen magnetycznych na zróżnicowanej topograficznie powierzchni.

Innym podejściem do obserwacji obiektów jest tworzenie trójwymiarowego obrazu na podstawie obrazów dwuwymiarowych uzyskanych pod różnymi kątami. Obecnie stosuje się techniki pozwalające na uzyskanie trójwymiarowych obrazów obiektu o rozdzielczości nawet poniżej 1μm.

Obrazowanie przestrzenna możliwe jest dzięki wykorzystaniu nowoczesnych technologii takich jak:

skaningowa mikroskopia jonowa (FIB)

mikroskop sił atomowych (AFM)

skaningowej sondy atomowej (APT)

mikroskop TEM wyposażone w uchwyt do tomografii 3D

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00