Budowa polerki jonowej

W komorze polerki jonowej, gdzie umieszczana jest próbka, panuje próżnia. Polerowanie polega na równomiernym bombardowaniu preparatu jonami argonu jednocześnie z dwóch dział jonowych umieszczonych po obu stronach próbki. Takie traktowanie powoduje stopniowe wybijanie atomów z powierzchni próbki. Wiązka jonów rozpylana jest w szerokim zakresie energetycznym – nawet do 10 keV. Energię wiązki należy dobrać w zależności od przygotowywanego materiału i zależy ona przede wszystkim od masy atomów próbki. Dzięki zastosowaniu niskich napięć przyspieszających możemy uzyskać lepszy kontrast uzyskiwanych później obrazów. Regulacja kąta padania wiązki jonów na próbkę (tzw. kąta natarcia) pozwala na dostosowanie szybkości polerowania próbki poprzez regulację głębokości penetracji wiązki. Proces polerowania jest zazwyczaj dość powolny, ponieważ jony argonu wybijają jednorazowo zazwyczaj od jednego do kilku atomów z próbki.

Polerka jonowa jest narzędziem całkowicie zmechanizowanym, co pozwala na automatyczne ustawienie położenia próbki, kąta i energii padania wiązki jonów oraz grubości otrzymanego preparatu. Próbki wrażliwe na ciepło mogą być polerowane w niskich temperaturach. Do standardowego urządzenia dodaje się wówczas stolik chłodzony ciekłym azotem.


Obserwacje w mikroskopie SEM

Obserwowanie próbki w tak dużym powiększeniu jakie zapewnia mikroskopia elektronowa wymaga odpowiedniego przygotowania badanych obiektów. Grubość preparatów zależna jest od wykorzystanej metody obserwacji. Powierzchnia powinna być płaska, gładka i mieć niezaburzoną strukturę. Przekroje poprzeczne są bardzo przydatne w analizie za pomocą mikroskopii elektronowej, ponieważ ich powierzchnia zawiera mało defektów, a ich mikrostruktura, skład chemiczny i fazowy są w pełni ujawnione.

Wykorzystanie polerki jonowej

Polerka jonowa jest narzędziem służącym do precyzyjnego wytrawiania przekrojów próbek. Zapewnia optymalne parametry polerowania obiektów. Pozwala na obróbkę materiałów o najróżniejszych właściwościach: miękkich, twardych, porowatych, kruchych czy wrażliwych na wysoką temperaturę.

Wykorzystując polerkę jonową możemy przygotować powierzchnię próbki do analiz wykorzystujących:

  • emisję dyfrakcji elektronów (EBSD) pozwalającą określić odkształcenia wewnętrzne, jak również orientację monokryształów oraz ziaren polikryształów
  • długości fali (WDS) albo energię (EDS) emitowanego promieniowania rentgenowskiego
  • obrazowanie w wysokiej rozdzielczości

Polerka jonowa Leica EM TIC3X, dostępna w PIK Instruments:

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00