Polerka jonowa pik instrumentsBudowa polerki jonowej

Preparowana próbka umieszczana jest w komorze polerki jonowej w której panuje próżnia. Traktowanie jonami argonu z dwóch dział jonowych umieszczonych po obu stronach próbki pozwala na jej równomierne polerowanie. Odbywa się to poprzez uderzanie jonów argonu w powierzchnię próbki, dzięki czemu z jej powierzchni wybijane są atomy. Wiązka jonów rozpylana jest w szerokim zakresie energetycznym od 100 eV do 6 KeV. Energię wiązki należy dobrać do preparowanego obiektu i zależy ona przede wszystkim od masy atomów próbki. Dzięki zastosowaniu niskich napięć przyspieszających możemy uzyskać lepszy kontrast obrazów. Regulacja kąta padania wiązki jonów na próbkę (tzw. kąt natarcia) w zakresie od 0 ° do 10° pozwala na dostosowanie szybkości polerowania próbki poprzez regulację głębokości polerowania. Proces polerowania jest zazwyczaj dość powolny, ponieważ jony argonu wybijają jednorazowo zazwyczaj od jednego do kilku atomów z próbki.

Polerka jonowa jest narzędziem całkowicie zmechanizowane, co pozwala na automatyczne ustawienie położenia próbki, kąta i energii padania wiązki jonów oraz grubości otrzymanego preparatu. Próbki wrażliwe na ciepło mogą być polerowane w niskich temperaturach. Do standardowego urządzenia dodaje się wówczas stolik chłodzony ciekłym azotem.


Polerka jonowa fischione 1060 semObserwacje w mikroskopie SEM

Obserwowanie próbki w tak dużym powiększeniu jakie zapewnia mikroskopia elektronowa wymaga odpowiedniego przygotowania preparatów. Grubość preparatów do mikroskopii elektronowej zależna jest od wykorzystanej metody obserwacji. Powierzchnia preparatów powinna być płaska, gładka i mieć niezaburzoną strukturę. Przekroje poprzeczne są bardzo przydatne w analizie za pomocą mikroskopii elektronowej ponieważ ich powierzchnia zawiera mało defektów obcych, a ich mikrostruktura, skład chemiczny i fazowy są w pełni uwidocznione.

Wykorzystanie polerki jonowej

Polerka jonowa jest narzędziem służącym do precyzyjnego wytrawiania przekrojów próbek. Zapewnia optymalne parametry polerowania obiektów. Pozwala na przygotowanie preparatów z materiałów o najróżniejszych właściwościach: miękkich, twardych, porowatych, kruchych czy wrażliwych na wysoką temperaturę.

Wykorzystując polerkę jonową możemy przygotować powierzchnię próbki do analiz wykorzystujących:

  • emisję dyfrakcji elektronów (EBSD) pozwalającą określić odkształcenia wewnętrzne, jak również orientację monokryształów oraz ziaren polikryształów
  • długości fali (WDS) albo energia (EDS) emitowanego promieniowania rentgenowskiego
  • obrazowanie w wysokiej rozdzielczości

FISCHIONE 1060 SEM MILL POLERKA JONOWA SEM:

Polerka jonowa fischione 1060

Fischione SP1060 Specyfikacja

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00