Budowa polerki jonowej

Preparowana próbka umieszczana jest w komorze polerki jonowej, w której panuje próżnia. Traktowanie jonami argonu z dwóch dział jonowych umieszczonych po obu stronach próbki pozwala na jej równomierne polerowanie. Odbywa się to poprzez uderzanie jonów argonu w powierzchnię próbki, dzięki czemu z jej powierzchni wybijane są atomy. Wiązka jonów rozpylana jest w szerokim zakresie energetycznym – nawet do 10 keV. Energię wiązki należy dobrać do preparowanego obiektu i zależy ona przede wszystkim od masy atomów próbki. Dzięki zastosowaniu niskich napięć przyspieszających możemy uzyskać lepszy kontrast obrazów. Regulacja kąta padania wiązki jonów na próbkę (tzw. kąt natarcia) pozwala na dostosowanie szybkości polerowania próbki poprzez regulację głębokości polerowania. Proces polerowania jest zazwyczaj dość powolny, ponieważ jony argonu wybijają jednorazowo zazwyczaj od jednego do kilku atomów z próbki.

Polerka jonowa jest narzędziem całkowicie zmechanizowanym, co pozwala na automatyczne ustawienie położenia próbki, kąta i energii padania wiązki jonów oraz grubości otrzymanego preparatu. Próbki wrażliwe na ciepło mogą być polerowane w niskich temperaturach. Do standardowego urządzenia dodaje się wówczas stolik chłodzony ciekłym azotem.


Obserwacje w mikroskopie SEM

Obserwowanie próbki w tak dużym powiększeniu jakie zapewnia mikroskopia elektronowa wymaga odpowiedniego przygotowania preparatów. Grubość preparatów do mikroskopii elektronowej zależna jest od wykorzystanej metody obserwacji. Powierzchnia preparatów powinna być płaska, gładka i mieć niezaburzoną strukturę. Przekroje poprzeczne są bardzo przydatne w analizie za pomocą mikroskopii elektronowej, ponieważ ich powierzchnia zawiera mało defektów, a ich mikrostruktura, skład chemiczny i fazowy są w pełni ujawnione.

Wykorzystanie polerki jonowej

Polerka jonowa jest narzędziem służącym do precyzyjnego wytrawiania przekrojów próbek. Zapewnia optymalne parametry polerowania obiektów. Pozwala na przygotowanie preparatów z materiałów o najróżniejszych właściwościach: miękkich, twardych, porowatych, kruchych czy wrażliwych na wysoką temperaturę.

Wykorzystując polerkę jonową możemy przygotować powierzchnię próbki do analiz wykorzystujących:

  • emisję dyfrakcji elektronów (EBSD) pozwalającą określić odkształcenia wewnętrzne, jak również orientację monokryształów oraz ziaren polikryształów
  • długości fali (WDS) albo energię (EDS) emitowanego promieniowania rentgenowskiego
  • obrazowanie w wysokiej rozdzielczości

Polerka jonowa Leica EM TIC3X, dostępna w PIK Instruments:

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00