profilometr optycznyCharakterystyka zjawiska interferencji

Interferencja fal to zjawisko nakładania się dwóch lub kilku fal powodujący przestrzenny podział strumienia świetlnego. W efekcie dochodzi do wzmocnienia lub osłabienia fal w jednostce czasu. Fale mogą wzajemnie interferować jeśli ich wektory drgają w kierunkach prostopadłych do siebie.

Metodami interferencyjnymi nazywamy jakościową trójwymiarową analizę powierzchni. Analiza ta polega na mierzeniu rozkładu fali świetlnej na powierzchni próbki.

Rodzaje profilometrów

Profilometr optyczny analizuje powierzchnię wykorzystując zjawisko interferencji światła białego. Pozawala na obserwowanie obiektu z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością. Zastosowanie profilometrów jest bardzo szerokie. Stosuje się je do badania jakości elementów optycznych, do pomiaru kątów i profilowania powierzchni chropowatych.

 

Profilometr optyczny frt

 

Zależnie od metod pomiaru rozróżniamy:

  • profilometry stykowe;
  • profilometry bezstykowe (wykorzystują metodę przekroju świetlnego, zogniskowaną wiązkę laserową, pomiar interferencyjny lub triangulacyjny).

Charakterystyka profilometrów optycznych

Zjawisko interferencji fal wykorzystuje się w bardzo precyzyjnych przyrządach zwanych profilometrami optycznymi.
Umożliwiają one tworzenie map różnych typów powierzchni próbek. Pozwala to na profilometr optyczny frt microprof 200analizę powierzchni próbek bez konieczności jej wcześniejszego preparowania. Analizować można próbki o różnych właściwościach jak stopień przeźroczystości czy chropowatości.

Źródłem wiązki światła jest oświetloną szczelina, następnie fala świetlna pada na dwie wąskie szczeliny pełniące rolę źródeł koherentnych. Obraz interferencyjny powstaje na ekranie.

Urządzenia te różnią się szybkością skanowania, wielkością i typem stolika próbki, które można modulować według potrzeb dlatego wykorzystywane są powszechnie w laboratoriach naukowych i przemysłowych.

 

Profilometr optyczny FRT MicroProf® 200:

profilometr optyczny

Specyfikacja FRT Microprof 200 – pobierz

 

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00