SPMTechniki SPM

SPM czyli mikroskopy ze skanującą sondą (ang. Scanning Probe Microscopy) są grupą narzędzi służących do badania właściwości powierzchni preparatów. Zasada działania tych mikroskopów opiera się na skanowaniu powierzchni próbki. Skanowanie preparatu odbywa się z wykorzystaniem skanera pizoelektrycznego pozwalającego na przesuwanie się próbki, względem głowicy mikroskopu lub odwrotnie, w 3 płaszczyznach.

Charakterystyka technik SPM

Badania za pomocą mikroskopów ze skanującą sondą pozwalają na obrazowanie powierzchni w skali od ułamka nanometra, aż do poziomu mikrometrów w bardzo dużej rozdzielczości. Mikroskopy te pracują w różnych warunkach od wysokiej próżni, poprzez ciecz, środowisko gazowe lub elektrochemiczne. Do szerokiej grupy instrumentów ze skanującą sondą zaliczane są:

  • Skaningowy mikroskop tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscope; STM) – wykorzystuje efekt tunelowania;
  • Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope; AFM) – wykorzystuje oddziaływania sił atomowych;
  • Mikroskop sił poprzecznych (ang. Lateral Force Microscope; LFM) –pomiar skręcenia mikrodźwigienki na skutek oddziaływania sił równoległych do płaszczyzny preparatu;
  • Mikroskop z modulacją siły (ang. Force Modulation Microscope; FMM) – pracuje w trybie kontaktowym, przy zmiennym wychyleniu mikrodźwigini;
  • Mikroskop z detekcją fazy (Phase Detection Microscope; PDM) – wykorzystuje badanie opóźnienia fazowego;
  • Mikroskop sił magnetycznych (ang. Magnetic Force Microscope; MFM) – wykorzystuje oddziaływania magnetyczne; mierzona amplituda wychylenia mikrodźwigni;

SPM CellTryb działania mikroskopów SPM

Mikroskopy SPM działają w kilku trybach pracy:

  • tryb stałej siły (ang. Constant Force Mode) – pomiar dokonywany jest przez skanowanie bez zmiany natężenia prądu;
  • tryb stałej wysokości (ang. Constant Height Mode) – pomiar dokonywany jest przez skanowanie próbki ze stałą wysokością, informacja o obrazie pochodzi ze zmiennego sygnału;
  • tryb kontaktowy (ang. Contact Mode) – sonda skanująca jest prowadzona przy dużym nacisku na próbkę;
  • tryb bez kontaktu (ang. Non-Contact Mode) – sonda nie ma kontaktu z próbką ;
  • tryb z przerywanym kontaktem (ang. Tapping Mode) – ostrze jest naprzemiennie odsuwane i zbliżane do próbki;
  • tryb pomiaru krzywej (ang. Force-Curve Mode) – pomiar zależności siły od odległości sondy od próbki;

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00