badanie powierzchni

Badanie powierzchni informacje podstawowe

Powierzchnia obiektów jest zróżnicowana ze względu na wiele czynników od metod wytwarzania, przez obróbkę a także czynniki środowiskowe lub użytkowe. Badanie powierzchni próbki dostarcza wielu istotnych informacji o jej właściwościach, najważniejsze parametry określające powierzchnię to jej morfologia, topografia oraz skład chemiczny.

Badanie powierzchni dostarcza informacji o właściwościach fizyko-chemicznych pośród których możemy wymienić te z którymi mamy styczność na co dzień m.in: sztywność, tarcie, spójność czy adhezja a także te które na co dzień są dla nas niedostępne jak skład chemiczny.

Techniki badania powierzchni

Techniki badania powierzchni dzielimy na:

Mikroskopie elektronową która służy do badania powierzchni próbki w próżni, poza wysoką rozdzielczością odwzorowania morfologii powierzchni pozwala na analizę chemiczną za pomocą detektorów EDS i WDS a także krystalograficzną w technice EBSD.

Profilometrię optyczną pozwalającą na pomiary topografii i morfologii z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością.   

Metody kontaktowe wykorzystujące rozmaite sondy pomiarowe m. in: mikroskopie sił atomowych (AFM i SPM) oraz profilometrię stykową.

Urządzenia wykorzystywane do badania powierzchni

badanie powierzchni

Urządzenia wykorzystywane do badania powierzchni:

Mikroskop elektronowy SEM skanujący powierzchnie wiązką elektronów w próżni pozwala na wysokorozdzielcze obrazowanie morfologiczne w trybie elektronów odbitych oraz wtórnych a także dokładną analizę chemiczną w trybie EDS i WDS

Mikroskop sił atomowych AFM pozwala na badanie powierzchni próbki po przez pomiar wielu rodzajów oddziaływań pomiędzy próbką a sondą, możliwa jest obserwacja topografii i morfologii powierzchni a także określenie szeregu właściwości elektro=magnetycznych np.: rozkładu domen magnetycznych na powierzchni czy zobrazowanie rozkładu pracy wyjścia dla wybranych obszarów.

Profilometr optyczny pozwala na pomiary topografii i morfologii z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością, profilometry wielosensorowe pozwalają na pomiar każdego rodzaju materiału.    

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00