badanie powierzchniBadanie powierzchni – Informacje 

Powierzchnia obiektów jest zmienna ponieważ jest stale poddana oddziaływaniu otoczenia. Badanie powierzchni próbki dostarcza wielu informacji o ich właściwościach. Najważniejsze parametry określające powierzchnię to jej morfologia, struktura atomów i elektronów oraz szeroko pojęty skład chemiczny czyli czystość obiektu, obecność domieszek, rozkład powierzchniowy i głębokościowy.

Badanie powierzchni dostarcza informacji o właściwościach elektrycznych, optycznych i mechanicznych takich jak sztywność, tarcie, kohezja czy adhezja.

Metody badania powierzchni

Badanie powierzchni próbki powinno odbywać się w warunkach próżni. Zapewnia to badanie powierzchniswobodne przemieszczanie się wiązki i pozwala na zachowanie czystości próbki. W celu zbadania powierzchni należy wybrać odpowiednią metodę wykorzystującą sondy lub charakterystyczną własność powierzchni.

Metody wykorzystujące sondy są bardzo użyteczne dzięki swojej uniwersalności. Powszechnie jako sondy stosowane są elektrony, jony lub fotony. Elektrony są bardzo użyteczne ze względu na małą głębokość penetracji próbki. Elektrony jako sondy wykorzystywane są w mikroskopii. Techniki pozwalające na badanie powierzchni próbki to skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), mikroskopia sił atomowych (AFM) oraz skaningowa mikroskopia tunelowa (STM). Ponadto zastosowanie znajdują metody dyfrakcji elektronów oraz spektroskopii elektronów. Wykorzystanie jonów jako sondy zapewnia większą czułość powierzchniową. Techniki wykorzystujące jony jako sondy to na przykład rozpraszanie wsteczne (RBS). Fotony wykorzystywane są między innymi w spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS).

Mikroskopia elektronowa a badanie powierzchniowe

badanie powierzchniPreparaty przeznaczone do obserwacji w mikroskopii elektronowej muszą przewodzić prąd. Na obiekty nie przewodzące prądy nanosi się cienką warstwę materiału o dobrych właściwościach elektrycznych.

Skaningowy mikroskop elektronowy pozwala na skanowanie powierzchni próbki wiązką elektronów. Informacje o powierzchni otrzymujemy badając sygnał emitowany przez elektrony wtórne.

Mikroskop sił atomowych pozwala na badanie próbki poprzez pomiar oddziaływań pomiędzy próbką a sondą, która posiada kształt ostro zakończonej igły.

Skaningowy mikroskop tunelowy wykorzystuje zjawisko tunelowe. Mikroskop ten nie rejestruje fizycznej topografii próbki ale mierzy stany elektronowe blisko powierzchni próbki. Igła porusza się w sposób kontrolowany po powierzchni próbki wykorzystując skaner piezoelektryczny.

 

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS 

tel: +48 22 233 10 77

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 7/9

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00