Skaningowo-transmisyjnym mikroskopem elektronowym (STEM) nazywamy transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) wyposażony w detektor analizujący elektrony przechodzące, wtórne i odbite, które są charakterystyczne dla mikroskopii skaningowej (SEM). Obserwacja próbki jest identyczna jak w SEM, główną różnicą jest rodzaj obserwowanego preparatu. Preparaty stosowane do analizy to cienkie folie (podobnie jak w mikroskopii TEM). Analiza STEM pozwala na ocenę ilości i rodzaju pierwiastków znajdujących się w badanej próbce.
Katoda emituje elektrony, które następnie formowane są w wiązkę przez układ optyczny i skupiane na obserwowanym obiekcie za pomocą kondensora. Wiązka elektronów przesuwa się skokowo po powierzchni preparatu. Energia elektronów, które przeszły przez preparat, dociera do detektora umieszczonego pod próbką i przekształcana jest w sygnał świetlny wyświetlany na monitorze. Zdolność rozdzielcza zależy głównie od średnicy wiązki elektronów padającej na próbkę, choć oczywiście wartość napięcia przyspieszającego również ma na nią wpływ.
Zaletą mikroskopu skaningowo – transmisyjnego jest możliwość obserwacji preparatów grubszych niż w mikroskopie transmisyjnym. Dzięki temu przygotowywanie próbek jest znacznie łatwiejsze. Cienkie folie uzyskiwane są za pomocą wstępnego wycinania krążków z badanego materiału i jego dalszej obróbki za pomocą ścieniania jonowego lub elektrochemicznego. W kolumnie mikroskopu skaningowo – transmisyjnego panują warunki wysokiej próżni, aby bieg wiązki elektronów pozostał niezaburzony. Wykorzystując STEM możemy analizować zarówno skład ilościowy jak i jakościowy.
Jedną z głównych zalet skaningowo-transmisyjnego mikroskopu jest możliwość obserwacji znacznie grubszych preparatów niż w zwykłym mikroskopie transmisyjnym. W mikroskopie STEM mogą występować również inne detektory (elektronów wtórnych i odbitych), charakterystyczne dla SEM, pozwalające na prowadzenie obserwacji identycznych jak w mikroskopii skaningowej. Wiązka pierwotna elektronów ukształtowana przez układ soczewek kondensora oraz obiektywu skanuje powierzchnię preparatu (podobnie jak w SEM). Powstający sygnał jest rejestrowany i wyświetlany na monitorze bądź automatycznie zapisywany cyfrowo. Uzyskiwana rozdzielczość uzależniona jest przede wszystkim od szerokości wiązki (rzędu nanometrów). Mikroskopy skaningowo – transmisyjne pracują w bardzo wysokiej próżni.
Źródło:
http://www.ztch.umcs.lublin.pl/materialy/rozdzial_12.pdf, punkt 5
Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:
PIK INSTRUMENTS
tel: +48 22 726 74 96
e-mail: kontakt@pik-instruments.pl
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
pon-pt: 08:00 – 16:00
Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions