Mikroskop 3D – zasada działania
Obserwowanie obiektów w dużym powiększeniu dostarcza wielu informacji o budowie danego materiału oraz jego właściwościach. Powstające obrazy są dwuwymiarowe, ponieważ oś Z nie jest odwzorowywana. Takie obrazowanie nie pozwala na pełną analizę próbki.
Nowoczesne metody, takie jak mikroskopia sił atomowych, pozwalają na trójwymiarowe odwzorowanie obiektów. Możliwe jest np.: odwzorowanie rozkładu domen magnetycznych na zróżnicowanej topograficznie powierzchni.
Innym podejściem obserwacji jest tworzenie trójwymiarowego obrazu na podstawie obrazów dwuwymiarowych uzyskanych pod różnymi kątami. Obecnie stosuje się techniki pozwalające na uzyskanie trójwymiarowych obrazów próbek
o rozdzielczości nawet poniżej 1μm.
Obrazowanie przestrzenne możliwe jest dzięki wykorzystaniu nowoczesnych technik takich jak:
- skaningowa mikroskopia jonowa (FIB)
- mikroskop sił atomowych (AFM)
- skaningowej sondy atomowej (APT)
- mikroskop TEM wyposażony w uchwyt do tomografii 3D
Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:
PIK INSTRUMENTS
tel: +48 22 233 10 77
e-mail: kontakt@pik-instruments.pl
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
pon-pt: 08:00 – 16:00