Mikroskopia sond skanujących SPM/AFM
SPM czyli mikroskopy ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscopes) są grupą urządzeń służącą do badania właściwości powierzchni. Zasada działania opiera się na skanowaniu powierzchni próbki za pomocą sondy przy jednoczesnym pomiarze przemieszczenia wykonywanym za pomocą laserowego układu pomiarowego. Po wykryciu zmiany sygnału na fotodiodzie mikroskop zmienia położenie sondy za pomocą skanera piezoelektrycznego, który jednocześnie pozwala na przesuwanie się próbki względem sondy skanującej lub też sondy względem nieruchomej próbki w zależności od konstrukcji mikroskopu.
Charakterystyka mikroskopii skanujących sond
Badania za pomocą mikroskopów SPM pozwalają na obrazowanie powierzchni w skali od ułamków nanometra do poziomu mikrometrów z bardzo dużą rozdzielczością. Mikroskopy pozwalają na obrazowanie powierzchni próbki w rożnych warunkach: od ultra wysokiej próżni (ang. ultra high vacuum, UHV), poprzez ciecz, kontrolowaną atmosferę gazową, nawet po środowisko kontrolowane elektrochemiczne.
Każdy mikroskop AFM/SPM może pracować w wielu trybach pomiarowych m.in.:
- w trybie kontaktowym;
- w trybie bezkontaktowym lub z przerywanym kontaktem;
- w trybie obrazowania sił tarcia (sił lateralnych) – LFM (ang. lateral force microscopy);
- w trybie obrazowania z modulacją siły pozwalając na odwzorowanie sztywności rożnych obszarów powierzchni;
- w trybie obrazowania z detekcją fazy pozwalając na odwzorowanie rozkładu fazowego na powierzchni;
- w trybie obrazowania sił magnetycznych MFM (ang. magnetic force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu domen magnetycznych;
- w trybie obrazowania sił elektrostatycznych EFM (ang. electrostatic force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu domen elektrycznych;
- w trybie obrazowania potencjału powierzchni KPFM (ang. Kelvin probe force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu obszarów różniących się między sobą wartością pracy wyjścia;
Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:
PIK INSTRUMENTS
tel: +48 22 233 10 77
e-mail: kontakt@pik-instruments.pl
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
pon-pt: 08:00 – 16:00