MIKROSKOP ZE SKANUJĄCĄ SONDĄ

Mikroskopia sond skanujących  SPM/AFM

SPM czyli mikroskopy ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscopes) są grupą urządzeń służącą do badania właściwości powierzchni. Zasada działania opiera się na skanowaniu powierzchni próbki za pomocą sondy przy jednoczesnym pomiarze przemieszczenia wykonywanym za pomocą laserowego układu pomiarowego. Po wykryciu zmiany sygnału na fotodiodzie mikroskop zmienia położenie sondy za pomocą skanera piezoelektrycznego, który jednocześnie pozwala na przesuwanie się próbki względem sondy skanującej lub też sondy względem nieruchomej próbki w zależności od konstrukcji mikroskopu.

Charakterystyka mikroskopii skanujących sond

Badania za pomocą mikroskopów SPM pozwalają na obrazowanie powierzchni w skali od ułamków nanometra do poziomu mikrometrów z bardzo dużą rozdzielczością. Mikroskopy pozwalają na obrazowanie powierzchni próbki w rożnych warunkach: od ultra wysokiej próżni (ang. ultra high vacuum, UHV), poprzez ciecz, kontrolowaną atmosferę gazową, nawet po środowisko kontrolowane elektrochemiczne.

Każdy mikroskop AFM/SPM może pracować w wielu trybach pomiarowych m.in.:

  • w trybie kontaktowym;
  • w trybie bezkontaktowym lub z przerywanym kontaktem;
  • w trybie obrazowania sił tarcia (sił lateralnych) – LFM (ang. lateral force microscopy);
  • w trybie obrazowania z modulacją siły pozwalając na odwzorowanie sztywności rożnych obszarów powierzchni;
  • w trybie obrazowania z detekcją fazy pozwalając na odwzorowanie rozkładu fazowego na powierzchni;
  • w trybie obrazowania sił magnetycznych MFM (ang. magnetic force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu domen magnetycznych;
  • w trybie obrazowania sił elektrostatycznych EFM (ang. electrostatic force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu domen elektrycznych;
  • w trybie obrazowania potencjału powierzchni KPFM (ang. Kelvin probe force microscopy) pozwalając na odwzorowanie rozkładu obszarów różniących się między sobą wartością pracy wyjścia;

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Polityka plików cookie

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn