SPM czyli mikroskopy ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscopes) są grupą urządzeń służącą do badania właściwości powierzchni. Zasada działania opiera się na skanowaniu powierzchni próbki za pomocą sondy przy jednoczesnym pomiarze przemieszczenia wykonywanym za pomocą laserowego układu pomiarowego. Po wykryciu zmiany sygnału na fotodiodzie mikroskop zmienia położenie sondy za pomocą skanera piezoelektrycznego, który jednocześnie pozwala na przesuwanie się próbki względem sondy skanującej lub też sondy względem nieruchomej próbki w zależności od konstrukcji mikroskopu.
Badania za pomocą mikroskopów SPM pozwalają na obrazowanie powierzchni w skali od ułamków nanometra do poziomu mikrometrów z bardzo dużą rozdzielczością. Mikroskopy pozwalają na obrazowanie powierzchni próbki w rożnych warunkach: od ultra wysokiej próżni (ang. ultra high vacuum, UHV), poprzez ciecz, kontrolowaną atmosferę gazową, nawet po środowisko kontrolowane elektrochemiczne.
Każdy mikroskop AFM/SPM może pracować w wielu trybach pomiarowych m.in.:
Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:
PIK INSTRUMENTS
tel: +48 22 726 74 96
e-mail: kontakt@pik-instruments.pl
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
pon-pt: 08:00 – 16:00
Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions