Leica EM TIC 3X to system ścieniania wiązką jonową, wykorzystujący trzy działa jonowe, dostosowany do potrzeb nowych aplikacji w mikroskopii świetlnej i mikroskopii SEM. Pozwala użytkownikowi na przygotowanie wielu rodzajów próbek oraz dostosowanie w szybki sposób urządzenia do zmieniających się potrzeb, m.in. dzięki zastosowaniu stolika rotacyjnego lub stolika z chłodzeniem, dedykowanego dla próbek termicznie wrażliwych.

System Leica EM TIC3X zapewnia największy obszar przekroju, aby zaoferować najwyższą wydajność analiz. Cechą unikalną jest najwyższa prędkość i największy jednolity obszar dla techniki płaskiego polerowania (polerowanie wiązką jonową). Dodatkowo urządzenie zapewnią szybki przepływ pracy wykorzystując synergię z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje zminimalizowany.

• Energia jonów: 1 keV do 10 keV
• Prąd źródła: 0,5 do 4,5 mA / 0,1 mA (na źródło jonów)
• Gęstość prądu 10 mA/cm² (na źródło jonów)
• Średnica wiązki jonów: 0,8 mm (przy 10 keV), 2,5 mm (przy 2 keV)
• Żywotność katody > 350 h dla 8 kV, 3 mA

Doposażenie w port VCT do transferu próbek w próżni lub aplikacji cryo.

Stolik STANDARD (największy rozmiar próbek: 50x50x10mm)

COOLING STAGE (chłodzenie uchwytu próbki oraz maski; zakres temperaturowy 30° do -160°C)

MULTIPLE STAGE (stolik trzypozycyjny)

ROTARY STAGE (stolik rotacyjny, max. rozmiar próbki Ø 38mm / 12mm grubość)

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00