Leica EM TIC 3X to system ścieniania wiązką jonową, wykorzystujący trzy działa jonowe, dostosowany do potrzeb nowych aplikacji w mikroskopii świetlnej i mikroskopii SEM. Pozwala użytkownikowi na przygotowanie wielu rodzajów próbek oraz dostosowanie w szybki sposób urządzenia do zmieniających się potrzeb, m.in. dzięki zastosowaniu stolika rotacyjnego lub stolika z chłodzeniem, dedykowanego dla próbek termicznie wrażliwych.
System Leica EM TIC3X zapewnia największy obszar przekroju, aby zaoferować najwyższą wydajność analiz. Cechą unikalną jest najwyższa prędkość i największy jednolity obszar dla techniki płaskiego polerowania (polerowanie wiązką jonową). Dodatkowo urządzenie zapewnią szybki przepływ pracy wykorzystując synergię z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje zminimalizowany.
Doposażenie w port VCT do transferu próbek w próżni lub aplikacji cryo.
Stolik STANDARD (największy rozmiar próbek: 50x50x10mm)
COOLING STAGE (chłodzenie uchwytu próbki oraz maski; zakres temperaturowy 30° do -160°C)
MULTIPLE STAGE (stolik trzypozycyjny)
ROTARY STAGE (stolik rotacyjny, max. rozmiar próbki Ø 38mm / 12mm grubość)
Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:
PIK INSTRUMENTS
tel: +48 22 726 74 96
e-mail: kontakt@pik-instruments.pl
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
pon-pt: 08:00 – 16:00
Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions