BADANIE POWIERZCHNI

Powierzchnia materiałów występujących w przyrodzie jest bardzo zróżnicowana. Dzieje się tak ze względu na niezliczoną liczbę sposobów ich wytwarzania, obróbki, ale także na czynniki środowiskowe lub użytkowe, którym są nieustannie poddawane. Badanie powierzchni próbek dostarcza istotnych informacji o ich właściwościach fizyko-chemicznych: morfologii, topografii, składzie chemicznym, sztywności, współczynniku tarcia, siłach adhezji, kohezji czy napięciu powierzchniowym.

Techniki badania powierzchni

Można wyszczególnić kilka najważniejszych technik badań powierzchni:

Metody kontaktowe – badania wykorzystujące rozmaite sondy pomiarowe m.in.: mikroskopię sił atomowych (AFM i SPM) oraz profilometrię stykową.

Mikroskopia elektronowa – badania powierzchni próbki w próżni; poza wysoką rozdzielczością odwzorowania morfologii powierzchni pozwala na analizę chemiczną za pomocą detektorów:
– EDS (energodyspersyjna spektroskopia rentgenowska, energy dispersive X-ray spectroscopy);
– WDS (falowodyspersyjna spektroskopia rentgenowska, ang. wavelength dispersive spectroscopy);
– oraz krystalograficzną w technice EBSD (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych, ang. electron backscatter diffraction).

Profilometria optyczna – pomiary topografii i morfologii z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością.

Metody kontaktowe – badania wykorzystujące rozmaite sondy pomiarowe m.in.: mikroskopię sił atomowych (AFM i SPM) oraz profilometrię stykową.

Urządzenia wykorzystywane do badania powierzchni

Urządzenia wykorzystywane do badań powierzchni:

Profilometr optyczny – pomiary topografii i morfologii z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością; profilometry wielosensorowe pozwalają na badanie każdego rodzaju materiału.

Mikroskop elektronowy (SEM) – skanuje powierzchnię wiązką elektronów
w atmosferze próżniowej; pozwala na wysokorozdzielcze obrazowanie morfologiczne w trybie elektronów odbitych oraz wtórnych, a także na dokładną analizę chemiczną w trybie EDS i WDS;

Mikroskop sił atomowych (AFM) – badanie powierzchni próbki poprzez pomiar oddziaływań pomiędzy próbką a sondą skanującą; obserwacja topografii
i morfologii powierzchni, a także określenie szeregu właściwości elektromagnetycznych, np. rozkładu domen magnetycznych na powierzchni czy zobrazowanie rozkładu pracy wyjścia dla wybranych obszarów;

Profilometr optyczny – pomiary topografii i morfologii z dużą szybkością, powtarzalnością i rozdzielczością; profilometry wielosensorowe pozwalają na badanie każdego rodzaju materiału.

Specjalizujemy się w dziedzinie mikroskopii elektronowej oraz rozwiązaniach dedykowanych do preparatyki próbek mikroskopowych. Skontaktuj się z naszymi specjalistami, w celu doboru optymalnego rozwiązania:

PIK INSTRUMENTS

tel: +48 22 726 74 96

e-mail: kontakt@pik-instruments.pl

ul. Gen. L. Okulickiego 5F

05-500 Piaseczno, Polska

pon-pt: 08:00 – 16:00